首先呢，IC电子元器件可靠性问题即基本失效率的问题

，这是一种随机性质的失效

，与质量问题的区别是元器件的失效率取决于工作应力水平
。
　　
　　一定的应力水平下，IC电子元器件的失效率会大大下降



。为剔除不符合使用要求的元器件，包括电参数不合格

、密封性能不合格
、外观不合格
、稳定性差
、早期失效等
，应进行筛选试验
，电子产品主要元器件的筛选试验一般要求





：
　　
　　购货商要提供以下测试报告
，高温测试一般要焊接模拟测试，高温烤箱测试一般达不到实际焊接要求，测试可以通道式测试回流焊完成完全模拟实际焊接生产曲线，这样测试过的器件品质更有保证。
　　
　　1




、接插件按技术条件抽样检测各种参数

。
　　
　　2


、普通电容器在室温下按技术条件进行100%测试

，剔除不合格品

。
　　
　　3
、电阻在室温下按技术条件进行100%测试

，剔除不合格品。
　　
　　4
、半导体器件按以下顺序进行筛选：
　　
　　再然后，就是进行目检→初测→高温贮存→高低温冲击→电功率老化→高温测试→低温测试→常温测试。最终筛选进去的就是最优秀的IC电子元器件
。